El microscopio de fuerza atómica permite la caracterización topográfica de materiales orgánicos e inorgánicos en ambientes húmedos o secos. Su operación se basa en un cantilever con una punta de tamaño nanométrico (7-25 nm) que escanea la superficie, generando perfiles para crear imágenes de alta resolución. Este equipo puede analizar propiedades físicas, mecánicas, eléctricas y electroquímicas, dependiendo de la configuración seleccionada. Además, permite variar la temperatura de la muestra hasta 120 °C y ofrece áreas de escaneo desde 30x30 micras hasta 10x10 nanómetros.

• Modelo: Cypher ES
• Marca: Oxford instruments - Asylum research
• Proveedor: Vortex Company